超大规模集成电路测试内容简介

超大规模集成电路测试是一门成熟且广泛应用的学科，其理论和方法已被广泛接受并集成在现代EDA工具中。本书致力于系统整理和阐述业界主流的测试与可测性设计方法，为深入理解电路设计、模拟、测试和分析提供了坚实的基础。

内容涵盖广泛，首先介绍了电路测试的基石，包括验证、模拟与仿真技术。接着，深入探讨了自动化测试生成策略，以及专用的可测性设计方法。扫描设计和边界扫描法是本书的重要部分，它们对于保证集成电路的准确性和可靠性至关重要。随机测试和伪随机测试方法，对于检测潜在的故障模式同样不可或缺。

内建自测试（BIST）和电流测试在保证电路内部性能方面发挥关键作用，而存储器测试则是确保数据存储准确性的关键步骤。对于系统级的SoC测试，本书也给出了详细的处理策略，旨在连接从电路设计到应用的全过程。

无论是高等教育机构的高年级学生还是研究生，或是从事集成电路设计、制造、测试和应用，以及EDA和ATE领域的专业人士，本书都是一本实用且全面的参考书，为他们在各自领域的工作提供了丰富资源。